半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种-安徽自考网

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安徽自考网> 试题题库列表页> 半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于【】12-329

2013年7月质量管理试卷真题

卷面总分：100分试卷年份：2013 是否有答案：有作答时间： 150分钟

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试题序号

18

半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于【】12-329

A、可靠性测定试验
B、可靠性鉴定试验
C、可靠性验收实验
D、环境应力筛选试验

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为了分析过程是否处于稳定状态，现每小时从过程抽取5个样品，已抽得30组样本，并得到各组的均值和极差Ri，且=458.4与=127.6，给定n=5时，A2=0.577。要求：(1)计算控制图的上下控制界限值及中心值。10-265/267(2)若绘制控制图并打点后发现有1个点子在上控制界限上，其它点均在界内且无异常排列，试判断过程是否稳定，并说明理由。10-267

企业经营的逻辑起点是【】3-60

A、识别和细分顾客
B、到工商部门登记注册
C、产品的研发
D、产品的销售

组织的社会责任4-95

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